آزمایشگاه FE-SEM
مرکز خدمات آزمایشگاهی

میکروسکوپ الکترونی روبشی با تولید یک باریکۀ الکترونی و تاباندن آن به سطح نمونه و روبش کردن اشعه­ های بازگشتی می­تواند اطلاعات مختلفی از لایه­ های سطحی ماده به دست دهد. این اطلاعات بسته به آشکارسازهای متصل به دستگاه در رده­ های متفاوتی قابل استفاده است. میکروسکوپ موجود در این آزمایشگاه قابلیت تصویرگیری از توپوگرافی و ساختار عنصری سطح و همچنین بررسی کمی ساختار شیمیایی سطحی را دارد.

مدیر

دکتر سیروس عسگری

تجهیزات  آزمایشگاه

دستگاه میکروسکوپ الکترونی روبشی (-SEMFE) مدل TeScan – Mira III ساخت کشور جمهوری چک

خدمات ارائه شده در آزمایشگاه

تصویرگیری از توپوگرافی سطح مواد در SE Mode (مرکز خدمات آزمایشگاهی)

تصویرگیری از ساختار عنصری سطح مواد در BSE Mode (مرکز خدمات آزمایشگاهی)

بررسی کمی ساختار شیمیایی سطح مواد با روش EDS (مرکز خدمات آزمایشگاهی  (

آنالیز عنصری EDS, Mapping و Line Scan توسط آشکارساز Oxford ساخت کشور انگلستان همراه با تصویربرداری SEM ارائه می شود

آئین نامه نوبت دهی FE-SEM

تماس با آزمایشگاه

کارشناس آزمایشگاه:مهندس فرهنگ پارسی کیا، مهندس صبا تابعان

شماره تماس: داخلی 105   8-66166246-021

برای ایمیل:  farhang_parsikia@alum.sharif.edu

آدرس پستی: تهران، دانشگاه صنعتی شریف، پشت دانشکده هوا و فضا، مجتمع خدمات فناوری، مرکز خدمات آزمایشگاهی